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Der Test stellt einen wichtigen Schritt im Entwurfs-und Herstellungsablauf digitaler Schal- tungen dar, indem er unter Anwendung bestimmter Eingangssignale die Funktion einer ent- worfenen Schaltung an einem hergestellten Exemplar zu verifizieren erlaubt. Diese Aufga- bensteIlung gilt gleichermassen fuer diskret aufgebaute Logik wie fuer integrierte Schaltungen. Doch kommt wegen der begrenzten Zahl der externen Anschluesse bei groesseren integrierten Schaltungen fast zwangslaeufig die Aufgabe hinzu, Testbarkeitsaspekte beim Entwurf zu beruecksichtigen, da andernfalls ein hinreichender Test haeufig nicht oder nur mit groesseren Schwierigkeiten durchzufuehren ist. Das liegt an der "Zugaenglichkeit" integrierter Schal- tungen, die durch die Anzahl externer Anschluesse beschraenkt ist. Aus diesen und anderen Gruenden ist der Test digitaler Schaltungen sinnvollerweise zusammen mit UEberlegungen zur Testbarkeit einer Schaltung zu sehen. Traditionell ist der Test digitaler Schaltungen um die logische Entwurfsebene herum ange- ordnet, d.h. dass die logische Ebene den Ausgangspunkt fuer die Testvorbereitung und die Testdurchfuehrung darstellt. Es gibt darueber hinaus heute auch Ansaetze, die von hierar- chisch hoeheren Ebenen ausgehen, doch hat sich bisher in diesem Bereich keine allgemein anerkannte Methodik etabliert, wie das fuer die logische Ebene der Fall ist. Es ist jedoch auch fuer den Testbereich wichtig, der wachsenden Komplexitaet der Schaltungen dadurch Rechnung zu tragen, dass man hierarchische Methoden fuer deren Pruefung einsetzt. Die Notwendigkeit, eine Schaltung zu pruefen, ergibt sich im Rahmen ihrer Entstehung mehrfach, wenn auch mit unterschiedlicher Zielsetzung.